涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀
深圳市方源儀器有限公司*涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀，涂鍍層測厚儀CMI233是全新一款可檢測測量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，可以測量鋼鐵上的各種電鍍（鍍鎳除外）、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度，還可用于測量各種金屬箔（如銅箔、鋁箔、金箔等）和非金屬薄膜（如紙張、塑料等）的厚度。也可測量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀產(chǎn)品儀器示意圖：
涂鍍層測厚儀CMI233超聲波測厚儀規(guī)格參數(shù)：
涂鍍層測厚儀CMI233
品牌：英國牛津儀器Oxford
測試范圍：磁感應(yīng)0-120mils(0-3.05mm);電渦流0-60mils(0-1.52mm)
分辨率：0.01mils(0.1um)
測試精度：1%或±0.1um依照參考標(biāo)準(zhǔn)片
保修期：1年
尺寸: 14.9X7.94X3.02cm
重量: 260g(含電池)
超聲波測厚儀
品牌：其他品牌
測試范圍：
B/標(biāo)準(zhǔn)13-1000um/0.5-40mils
B/高級13-1000um/0.5-40mils
C/標(biāo)準(zhǔn)50-3800um/2-150mils
C/高級50-3800um/2-150mils
分辨率：2um/0.1mils
測試精度：± 2um +3% 讀數(shù)/± 0.1mils + 3% 讀數(shù)
保修期：1年
尺寸: 146 x 64 x 31mm
重量: 105g（不含電池）
其他測厚儀分類作用：
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
中國代理商：深圳市方源儀器有限公司
地址：深圳市南山區(qū)登良路62號(hào)南園綜合樓5樓 地址：上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號(hào)1101室
電話： 電話：
： : fyyq@ ： : fyyq@ ：
