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X射線熒光分析儀EA1280

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更新時間：2024-01-31 16:23:57瀏覽次數(shù)：144次

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深圳市譜賽斯科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

近年來，限制使用環(huán)境有害物質(zhì)已變得普遍，且成為保護環(huán)境工作的一部分

詳細介紹

近年來，限制使用環(huán)境有害物質(zhì)已變得普遍，且成為保護環(huán)境工作的一部分。隨著RoHS/ELV指令等法規(guī)的出臺，包括制造商在內(nèi)的很多公司都被要求控制其產(chǎn)品中包含的限制物質(zhì)數(shù)量。

新型EA1280具有中國標準（GB標準）建議要求的檢測器分辨率，相比于Si - PIN二極管等其他半導體檢測器，其工作效率和分析準確度更高。尤其與其他分析方法相比，X射線熒光分析可提供快速、無損、簡單的元素分析，因此其持續(xù)多次用于RoHS合規(guī)性篩查中。

1. 使用新型高性能半導體檢測器（硅漂移檢測器（SDD）），便于提高測試工作效率和獲得更可靠結(jié)果。

2. 采用同軸光學器件進行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。

3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡單的質(zhì)量控制和過程控制培訓即可使用分析儀。