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國(guó)產(chǎn)LS225分體式涂層測(cè)厚儀是一款主機(jī)與探頭分離的涂鍍層測(cè)厚儀，由LS225多探頭涂鍍層測(cè)厚儀主機(jī)與F500探頭組成。用于檢測(cè)鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的鍍銅，鍍鋅，鍍錫，鍍鉻以及涂料、清漆、搪瓷等非磁性涂鍍層。儀器具有超高的測(cè)量精度和重復(fù)性，可用于測(cè)量10μm以下的超薄涂鍍層厚度測(cè)試。

國(guó)產(chǎn)LS225分體式涂層測(cè)厚儀特別適用于測(cè)試小尺寸材料，最小測(cè)量區(qū)域直徑小至7毫米。提供專用的手壓測(cè)試機(jī)架供用戶選購(gòu)，對(duì)于超薄涂鍍層或異形小尺寸材料，使用專用手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試，數(shù)據(jù)更加精準(zhǔn)穩(wěn)定，尤其適合螺釘，螺栓等小工件以及各種異型材料的薄鍍層厚度測(cè)量。

主機(jī)參數(shù)

顯示	240×160點(diǎn)陣LCD
供電方式	4節(jié) 1.5V AAA堿性電池
工作溫度范圍	0℃-50℃
存儲(chǔ)溫度范圍	-20℃-60℃
主機(jī)尺寸	*1487626 mm*
重量（含電池）	194g

探頭參數(shù)

測(cè)量原理	磁感應(yīng)
基體材料	鐵磁性金屬
測(cè)量范圍	0.0-500μm
分辨率	0.1μm:（0μm - 99.9μm） 1μm:（100μm - 500μm） ≤±(0.1μm+0.8%) 手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試
重復(fù)性	≤±(0.8%讀數(shù)+0.1μm) 手壓測(cè)試機(jī)架測(cè)試
測(cè)量精度	±(2%讀數(shù)+0.3μm) 五點(diǎn)校準(zhǔn)
單位	μm / mil
測(cè)量間隔	1.5s
最小測(cè)量區(qū)域	?=7mm
最小曲率半徑	凸面1.5mm, 凹面10mm
最小基體厚度	0.1mm
用戶校準(zhǔn)	支持零點(diǎn)校準(zhǔn)，1點(diǎn)到5點(diǎn)校準(zhǔn)
探頭尺寸	長(zhǎng)110mm×直徑15mm(不包括連線)
探頭重量（含電池）	81g