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環(huán)境控制掃描探針顯微鏡

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更新時間：2023-12-18 19:10:42瀏覽次數(shù)：112次

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環(huán)境控制掃描探針顯微鏡通過密封單元實現(xiàn)氣體和液體灌注

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環(huán)境控制掃描探針顯微鏡

環(huán)境控制掃描探針顯微鏡

通過密封單元實現(xiàn)氣體和液體灌注；可將樣本溫度控制在0-250°C；與刺激性化學(xué)物質(zhì)高度兼容；接觸模式DART™脈沖頻率調(diào)制高次諧波成像模式（Dual AC™）；雙頻共振追蹤壓電模式（DART）；靜電力顯微技術(shù)（EFM）；液態(tài)成像；力曲線模式；力映射模式（力曲線陣列模式）；力調(diào)制模式；調(diào)頻模式；開爾文探針力顯微鏡（KPFM）；側(cè)向力模式（LFM）；損耗角正切模式；改進調(diào)頻制模式（MFM）；MicroAngelo™（納米光刻／納米操控）；相位成像模式；壓電響應(yīng)力顯微鏡模式(PFM)；光譜開關(guān)PFM；輕敲模式（交流電模式

WET-SPM系列

具有于含顆的控制氣氛腔?？梢钥刂茦悠贩凑麄€環(huán)境，因慮可以在控制氣燕下進行樣品赴理。并直接進行SPM觀贏。通過大型理事窗和兩個于套孔,在腔體內(nèi)可以進行樣品前處理。作為in-SituaSP可實時之時溫度。漫度,壓力。充量,董度等條作變化時的樣品表面安化。