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OptoFlat高精度低相位干涉儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

OptoFlat是行業(yè)內(nèi)的低成本、高穩(wěn)定性、高剛性以及結(jié)構(gòu)緊湊的平面專用低相干干涉儀

詳細(xì)介紹

OptoFlat是行業(yè)內(nèi)的低成本、高穩(wěn)定性、高剛性以及結(jié)構(gòu)緊湊的平面專用低相干干涉儀。其采用低相干性長(zhǎng)壽命的633nm的LED光源，波長(zhǎng)帶寬1nm。在測(cè)量透明材質(zhì)的雙面平行光學(xué)原件的單個(gè)表面面型時(shí)不會(huì)受到其他表面的干涉條紋影響，所以O(shè)ptoFlat可以排除來(lái)自多個(gè)表面的干擾，直接測(cè)得目標(biāo)表面的面型精度。對(duì)于測(cè)量實(shí)心玻璃棱鏡的前表面面型時(shí)也可以抑制其他反射面的影響的。

產(chǎn)品特點(diǎn)

自動(dòng)光強(qiáng)調(diào)節(jié)與FlexFlatTM傳輸平臺(tái)相結(jié)合，減少了操作人員在測(cè)量時(shí)的干預(yù)

無(wú)需反復(fù)測(cè)量，無(wú)需掃描測(cè)試位置

與其他基于激光的Fizeau干涉儀不同，OptoFlat集成了長(zhǎng)壽命的LED光源

內(nèi)置專有的PurePhaseTM方法提升了在不穩(wěn)定的振動(dòng)環(huán)境中的干涉相位測(cè)量

校準(zhǔn)過的低畸變1X和4X光學(xué)放大倍率的比例尺準(zhǔn)確的測(cè)試面積尺寸，，可自動(dòng)標(biāo)記或用戶定義有效通光孔徑，便于判定測(cè)試合格/不合格

簡(jiǎn)單易用的測(cè)試軟件界面便于光學(xué)原件的批量測(cè)試，使任何人只要稍加培訓(xùn)就可以輕松測(cè)試多樣的光學(xué)原件，專業(yè)的樣品承載臺(tái)可快速批量測(cè)試每個(gè)零件。非接觸式傳感器開始測(cè)量并能快速分析判斷產(chǎn)品合格/不合格