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膜厚測(cè)試儀

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菲希爾膜厚測(cè)試儀耐用且價(jià)廉的X射線熒光測(cè)試儀器，可無(wú)損測(cè)量鍍層厚度和進(jìn)行材料分析

詳細(xì)介紹

膜厚測(cè)試儀主要特點(diǎn):

新型號(hào)的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射線熒光方法和的微聚焦X-射線光學(xué)方法來(lái)測(cè)量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測(cè)量系統(tǒng)。

它的出現(xiàn)解決了分析和測(cè)量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來(lái)的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請(qǐng)的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測(cè)量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測(cè)量。

在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專(zhuān)有X-射線光學(xué)設(shè)計(jì)使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測(cè)量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

具有強(qiáng)大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。

儀器介紹:

WinFTMV6 是一套專(zhuān)門(mén)為解決含量分析和鍍層測(cè)量的軟件
WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平臺(tái)上運(yùn)行；因?yàn)橥高^(guò)簡(jiǎn)單操作及準(zhǔn)確的分析結(jié)果，所以便能夠提升生產(chǎn)力。WinFTMV6還有以下的特色……
特大屏幕能提供畫(huà)中畫(huà)顯示分析結(jié)果，光譜及彩色影像圖，圖像亦可以用JPG格式儲(chǔ)存。
儀器能同時(shí)間分析zui多24種不同的元素；根據(jù)可檢定的元素范圍由x ppm到99%，所以原子序號(hào)可由氯Cl=17）到鈾（Uranium Z=92）。
可同時(shí)測(cè)量23層不同元素鍍層的厚度。
共有1024頻道顯示清晰光譜，可隨意選用不同顏色及儲(chǔ)存光譜圖，方便日后加以分析。
因?yàn)椴煌軝z樣本的光譜可以進(jìn)行比較，所以便快捷和容易地得出兩種不同樣本含量的分別。
快速的頻譜分析以決定合金成分。
可以隨意創(chuàng)建元素分析應(yīng)用程式。
透過(guò)預(yù)先設(shè)入的14種純?cè)刈鳛橘Y料庫(kù)，儀器便可以不需用標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校亦能以基本系數(shù)（FP）進(jìn)行分析；如果輸入已知的元素更可快捷地得出含量結(jié)果。
可同時(shí)接受zui多10種不同含量的標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)調(diào)校儀器，所得出的結(jié)果更精確及可信賴(lài)。
用滑鼠選擇已經(jīng)儲(chǔ)存的應(yīng)用檔案后，便可即時(shí)進(jìn)行含量分析。
測(cè)量樣品后，可透過(guò)“analysis”功能按鍵，儀器便會(huì)自動(dòng)偵測(cè)內(nèi)里的元素含量。
自帶SOFTWARE PDM（Product Data Management產(chǎn)品數(shù)據(jù)管理）提供了以下的附加功能：
通過(guò)可定義的文件夾實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品文件管理（產(chǎn)品文件包括應(yīng)用，數(shù)據(jù)呈現(xiàn)方式，打印形式定義，輸出模板設(shè)置和記事簿）。
打印形式可由用戶(hù)隨意設(shè)定，例如輸出公司標(biāo)題之類(lèi)的小圖片。包括字體管理以及隨意定義頁(yè)面設(shè)置。
單個(gè)的應(yīng)用可連接至任何的產(chǎn)品文件（這種連接大大減少了校驗(yàn)和標(biāo)準(zhǔn)化所需的步驟數(shù)）。
使用條形碼標(biāo)簽以及可選擇的條形碼讀入器鍵盤(pán)，可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品自動(dòng)選擇。
允許僅對(duì)選擇的數(shù)據(jù)進(jìn)行評(píng)估。
從選擇的數(shù)據(jù)塊中進(jìn)行單組讀數(shù)的數(shù)據(jù)輸出。
FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM-u可以透過(guò)RS232接口、磁碟片或網(wǎng)絡(luò)卡將所要的資料匯出到其他電腦進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。
XYZ運(yùn)行程序功能：隨機(jī)的單個(gè)點(diǎn)，*點(diǎn)和zui后一點(diǎn)以及距離固定的中間點(diǎn)，列陣點(diǎn)，鼠標(biāo)左鍵選點(diǎn)功能，右鍵可作為控制鍵。
語(yǔ)言可選擇：英語(yǔ)，德語(yǔ)，法語(yǔ)，意大利語(yǔ)，西班牙語(yǔ)，及中文

菲希爾膜厚測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):

1.涂鍍層厚度的測(cè)量采用X-射線熒光測(cè)試方法，符合技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568；
2.測(cè)量箱結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，使用合格的機(jī)械和電氣部件；
3.測(cè)量箱外部尺寸：（高×寬×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大約為90kg；
4.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）140mm×560 mm×530 mm，帶向上回轉(zhuǎn)箱門(mén)；
5.原始射線從上至下；
6.高性能的X-射線管，高壓及電流設(shè)定可調(diào)節(jié)至的應(yīng)用，高壓設(shè)定：50kV，40kV或30kV；陽(yáng)極電流：連續(xù)可調(diào)至0.8mA；
7.zui小測(cè)量點(diǎn): 50×100um
8.聚焦范圍: 2.5 mm
9.自動(dòng)的X-射線光束十字星校準(zhǔn)。該特性在測(cè)量極小工件時(shí)非常有用；
10.高能量解像度的半導(dǎo)體接受器帶帕耳帖冷卻；內(nèi)部光譜處理的ADC的通道為4096，壓縮為1024個(gè)輸出通道；；
11.快速編程，高精確度，電機(jī)帶動(dòng)的XY工作臺(tái)運(yùn)行范圍：
X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm；
工作臺(tái)的控制可通過(guò)鼠標(biāo)點(diǎn)選或操作桿
工作臺(tái)面板可自動(dòng)移出至工件放置位置；定位容易；
12.電機(jī)驅(qū)動(dòng)及高度（Z-軸）Z-軸運(yùn)行=95mm；
13.高分辨率的彩色攝像頭用于測(cè)試工件的定位及查看；可選擇的雙重放大率