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涂層測厚儀探頭

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產(chǎn)品簡介

涂層測厚儀探頭涂層測厚儀F1探頭工作原理：磁感應(yīng)|分辨力：0

詳細介紹

涂層測厚儀探頭

涂層測厚儀F1探頭

工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
測量范圍：0-1250um
示值誤差：

1、一點校準：±[3%H+1]um
2、兩點校準：±[(1～3)%H+1]um

測量條件:

1、最小曲率半徑：凸1.5mm
2、基體最小面積的直徑：Ф7mm
3、最小臨界厚度：0.5mm

探頭尺寸：Ф12X47mm

涂層測厚儀N1探頭

工作原理：電渦流 | 分辨力：0.1um
測量范圍：0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um
示值誤差：

1、一點校準：±[3%H+1]um
2、兩點校準：±[(1～3)%H+1]um

測量條件:

1、最小曲率半徑：凸3mm
2、基體最小面積的直徑：Ф5mm
3、最小臨界厚度：0.3mm

探頭尺寸：Ф15X73mm

F1探頭是磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

N1探頭是渦流法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍.

涂層測厚儀F400探頭

工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：0.1um
測量范圍：0-400um
示值誤差：

1、一點校準：±[3%H+1]um
2、兩點校準：±[(1～3)%H+0.7]um

測量條件:

1、最小曲率半徑：凸1mm
2、基體最小面積的直徑：Ф3mm
3、最小臨界厚度：0.2mm

探頭尺寸：Ф12X55mm

涂層測厚儀F10探頭

工作原理：磁感應(yīng) | 分辨力：10um
測量范圍：0-10000um
示值誤差：

1、一點校準：±[1%H+1]um
2、兩點校準：±[(1～3)%H+10]um

測量條件:

1、最小曲率半徑：凸10mm
2、基體最小面積的直徑：Ф10mm
3、最小臨界厚度：2mm

探頭尺寸：Ф27X47mm

F400為選配探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更精準的測量結(jié)果和更高的重復(fù)性，另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時，F(xiàn)400探頭也是較好的選擇。

F10為選配探頭，測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標準校準片，用于校準儀器。