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牛津儀器Xplore能譜探測(cè)器

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

牛津儀器Xplore能譜探測(cè)器

詳細(xì)介紹

◆ 速度-Extreme電路與X1脈沖處理器的結(jié)合使Xplore能夠以1,000,000 cps的計(jì)數(shù)率進(jìn)行面分布分析，并以100,000 cps的速度進(jìn)行準(zhǔn)確定量分析靈敏度-新的緊湊型設(shè)計(jì)使得探測(cè)器體積小巧且便于現(xiàn)場(chǎng)維修，更大限度地延長(zhǎng)工作時(shí)間并減少宕機(jī)時(shí)間 Extreme電路-Xplore結(jié)合了*的Extreme電路，提供盡可能低的噪音信號(hào)檢測(cè)和處理。確保在高計(jì)數(shù)率下獲得優(yōu)異的能量分辨率和譜圖質(zhì)量，保證在100,000 cps下獲得129eV Mn Kα分辨率。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

◆ Xplore是SEM常規(guī)分析所用新一代EDS探測(cè)器。探測(cè)器有效晶體面積為15/30mm2 ，應(yīng)用范圍廣泛。Xplore使用了Ultim Max探測(cè)器中諸多新技術(shù)，它提供了實(shí)時(shí)EDS分析所需的快速數(shù)據(jù)采集，同時(shí)保證了常規(guī)分析所需的自動(dòng)可靠的結(jié)果。

速度