品名: X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9100M
型號: SFT9100M 概要 是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計??梢詼y定結構部件有凹凸的樣品和印刷基板等大面積樣品。對照采用激光射線的Z軸方向的焦點,可以發(fā)揮測定值的再現性。而且物美價廉。
特長
1.操作非常簡單。
2.運用激光焦點的功能,簡單的調整位置。
3.針對有凹凸的樣品也搭載了放心的防止沖突傳感器。
4.搭載焦點切換機構,可以對高的樣品的低部分進行測定。(任意選擇)
5.采用可以測定大型打印基板的狹小間隙機構。
型號 | SFT9100系列 | 射線源 | 空冷式小型X射線管 | 準直器 | 2種類型 0.1、0.2mmφ | 計算機 | CPU(AT互換電腦)、HDD、FDD、Microsoft-Windows® | 過濾裝置 | 數字過濾裝置 | 樣品平臺 | 臺面尺寸:220(W)x 150(D)mm Z移動量:50mm (使用spacer可達到150mm) | |