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Agilent N7788B 光元器件分析儀

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更新時間：2024-09-02 09:42:12瀏覽次數(shù)：189次

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深圳市誠瑞儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：45條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：鄒經(jīng)理

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產(chǎn)品簡介

主要優(yōu)勢通過單次掃描實現(xiàn)精度：無需通過多次掃描計算平均值高測量速度10秒之內即可完成C/L頻帶中的完整測量（無需等待多個平均值）穩(wěn)定性不受光纖移動/振動和漂移的影響描述是德制定了使用N7788B元器件分析儀進行元器件測量的限制，其專有技術可與的瓊斯矩陣本征法（JME）相媲美，瓊斯矩陣本征法是測量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群時延（DGD）的標準方法

詳細介紹

主要優(yōu)勢

通過單次掃描實現(xiàn)精度：無需通過多次掃描計算平均值

高測量速度

10 秒之內即可完成 C/L 頻帶中的完整測量（無需等待多個平均值）

穩(wěn)定性不受光纖移動/振動和漂移的影響

描述

是德制定了使用 N7788B 元器件分析儀進行元器件測量的限制，其專有技術可與的瓊斯矩陣本征法（JME）相媲美，瓊斯矩陣本征法是測量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群時延（DGD）的標準方法。

是德新的單次掃描技術具有一系列優(yōu)點，可用于測試全套參數(shù)：

DGD/ PMD

PDL

功率/損耗