產(chǎn)品簡介:
X射線是一種波長很短(約為20~0.06埃)的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶"產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應(yīng)的具有特定波長的X射線,稱為特征(或標識)X射線。XRD 即X-ray diffraction 的縮寫,中文翻譯是是X射線衍射,通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息。
X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射,主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數(shù)目的粒子(原子、離子或分子)所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用,從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量粒子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生強度的光束稱為X射線的衍射線。
滿足衍射條件,可應(yīng)用布拉格公式:2dsinθ=nλ。入射光束使每個散射體重新輻射其強度的一小部分作為球面波。 如果散射體與間隔d對稱地排列,則這些球面波將僅在它們的路徑長度差2dsinθ等于波長λ的整數(shù)倍的方向上同步。 在這種情況下,入射光束的一部分偏轉(zhuǎn)角度2θ,會在衍射圖案中產(chǎn)生反射點。
應(yīng)用已知波長的X射線來測量θ角,從而計算出晶面間距d,這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另一個是應(yīng)用已知d的晶體來測量θ角,從而計算出特征X射線的波長,進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。目前 X射線衍射(包括散射)已經(jīng)成為研究晶體物質(zhì)和某些非晶態(tài)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的有效方法。物相分析是X射線衍射中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。前者把對材料測得的點陣平面間距及衍射強度與標準物相的衍射數(shù)據(jù)相比較,確定材料中存在的物相;后者則根據(jù)衍射花樣的強度,確定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的關(guān)系和檢查材料的成分配比及隨后的處理規(guī)程是否合理等方面都得到廣泛應(yīng)用。
主要參數(shù):
應(yīng)用領(lǐng)域:
物相鑒定功能,分析各結(jié)晶相的比例;結(jié)晶度分析,確定材料的結(jié)晶程度;快捷測試出點陣參數(shù),為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標;快捷測定微觀應(yīng)力;納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù),采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。