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鍍層厚度測(cè)試儀XAU

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蘇州實(shí)譜儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:高性能探測(cè)器：搭配高性能探測(cè)器

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

高性能探測(cè)器：搭配高性能探測(cè)器，在檢測(cè)多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層時(shí)更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定
變焦裝置及
位置補(bǔ)償算法：可對(duì)各種異性凹槽進(jìn)行檢測(cè)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm
自主研發(fā)EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精確測(cè)量
高集成光路系統(tǒng)：搭配微聚焦一體的高集成垂直光路交換裝置
的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限