LuphoScan測(cè)量平臺(tái)是一款基于多波長(zhǎng)干涉技術(shù)（MWLI®）的干涉式掃描測(cè)量系統(tǒng)。它專為旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面的超精密非接觸式3D形狀測(cè)量而設(shè)計(jì)，例如非球面光學(xué)透鏡。該系統(tǒng)能為高質(zhì)量的光學(xué)表面3D形狀測(cè)量提供理想效益。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述

LuphoScan系統(tǒng)可以提供光學(xué)表面的高質(zhì)量3D形狀測(cè)量的好處；
      深入分析任何旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面-非球面、球面、平面和自由曲面
      超高且可重復(fù)的精度-≤ 50納米
      可以測(cè)量任何材料-透明，鏡面，不透明，拋光，地面。
      偏差大的球面-不受偏差限制。例如，它可以測(cè)量圓盤或鷗翼的表面，彎曲點(diǎn)的輪廓。
      大斜率測(cè)量-高達(dá)90°(例如:半球測(cè)量)
      完整的透鏡特性*-透鏡厚度、楔形誤差、偏心誤差、透鏡安裝位置

LuphoScan 260/420 HD測(cè)量臺(tái)開(kāi)創(chuàng)了光學(xué)表面高精密計(jì)量的新領(lǐng)域。新一代的測(cè)量系統(tǒng)能夠測(cè)量物件角度大至90° 度，測(cè)量精度高于±50 nm (3σ) 。測(cè)量結(jié)果有著很高的重復(fù)性且低噪音。全新的 LuphoScan 260/420 HD是對(duì)高精度有著很高要求應(yīng)用的理想選擇，是生產(chǎn)過(guò)程控制的*基本要求。可測(cè)量坡度很高的表面、具有不同間距方向的表面、很小的表面例如手機(jī)鏡頭模具。LuphoScan測(cè)量平臺(tái)是一款基于多波長(zhǎng)干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描測(cè)量系統(tǒng)。它專為旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面的超精密非接觸式3D形狀測(cè)量而設(shè)計(jì)，例如非球面光學(xué)透鏡。該系統(tǒng)能為高質(zhì)量的光學(xué)表面3D形狀測(cè)量提供**效益。LuphoScan量測(cè)平臺(tái)是一款利用多波長(zhǎng)干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描量測(cè)系統(tǒng)。它專為旋轉(zhuǎn)對(duì)稱表面的超精密非接觸式3D形狀量測(cè)而設(shè)計(jì)，例如非球面光學(xué)透鏡。LuphoScan平臺(tái)能夠輕松進(jìn)行非球面、球面、平面和自由曲面的量測(cè)。該儀器的主要特性包括高速量測(cè)、特殊表面的高靈活度量測(cè) (例如；反曲點(diǎn)的輪廓或平坦的尖點(diǎn)), *大物體直徑可達(dá)420 mm，因?yàn)椴捎枚嗖ㄩL(zhǎng)干涉技術(shù)（MWLI）傳感器技術(shù)，因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

1、測(cè)量精度
該系統(tǒng)使用了復(fù)雜的參考傳感器以及特殊的基準(zhǔn)框架概念，能夠確保*高精度的測(cè)量結(jié)果，精度可在±50nm以上。
2、高速測(cè)量
典型測(cè)量時(shí)間：30mm直徑球面小于2分鐘，130mm直徑球面小于5分半鐘。
3、多樣化的測(cè)量平臺(tái)配置
LuphoScan測(cè)量平臺(tái)技術(shù)能夠提供三種不同大小和不同測(cè)量配置的選擇。測(cè)量平臺(tái)大小能夠決定Z大被測(cè)物體。 Z大測(cè)量直徑可選：120mm、260mm和420mm。
4、4K相機(jī)與投影鏡頭
以*高解析度量測(cè)非球面。的信賴性有效降低人為操作誤差的影響。 LuphoScan HD機(jī)款讓制造者更精準(zhǔn)的量測(cè)所有光學(xué)件。蕞大適用性: 大斜率、復(fù)雜設(shè)計(jì)、多段非球面設(shè)計(jì)。得利于LuphoScan HD量測(cè)靈活性與信賴性，可滿足所有光學(xué)生產(chǎn)上所有的量測(cè)需求。舉凡越趨復(fù)雜化的鏡頭設(shè)計(jì)、大斜率非球面與高曲率海鷗形狀設(shè)計(jì)。
5、手機(jī)相機(jī)鏡頭模組
針對(duì)射出模型工件，透過(guò)精準(zhǔn)的鏡筒與治具的光學(xué)面相對(duì)定位，提升光學(xué)與機(jī)械性的再現(xiàn)性。
6、光學(xué)面的定位
結(jié)合多個(gè)鏡頭，畫像處理系統(tǒng)再提升! 內(nèi)建模組能應(yīng)用于使用者自定義的工件斜率與偏心率偵測(cè)解析提升，例如:鏡頭邊緣。在組裝制程中，采用此量測(cè)數(shù)據(jù)，可大大幫助改善光學(xué)系統(tǒng)的效率，并大幅降低誤差。