X射線膜厚儀通用的金屬標準片Au2uinch/xx是單鍍層標樣，它是美國Calmetrics專業(yè)生產(chǎn)的，是用來為各*的X射線鍍層測厚儀建立測試標準化檔案的，同時，也是檢驗和校準測厚儀的的標準件。X射線膜厚儀通用的金屬標準片Au2uinch/xx即是金元素鍍層兩微英寸的標準厚度。每塊標準片出廠都附有原廠校驗證書。
美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件，提供對標準件的校準服務(wù)，公司通過ISO/IEC 17025認證。公司提供所有證書符合NIST（National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術(shù)研究院）標準或ANSI（American National Standards Institute美國國家標準學會）標準。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好。
Calmetrics鍍層標準片適用于費希爾Fischer、韓國ISP、日立Hitachi（包括：牛津儀器Oxford（CMI）、精工Seiko）熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、島津、電測、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌的測厚儀。
X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。如：單鍍層：Au/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx，合金鍍層：Ni-P/xx。
鍍層標準片適用于X射線類儀器的標準。市面上絕大多部分的手持式熒光儀的厚度標準件都來自于美國Calmetrics公司。
X射線標準片又叫膜厚儀校準片或者鍍層厚度標樣，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片：
專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關(guān)系，來得到標準曲線，之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。
對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
我司代理CalMetrics一系列鍍層標準片，適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優(yōu)、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）。
1.薄膜片,單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）； 銠（Rh）；鋅（Zn）；Cd（4）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）;鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.
2.鍍層標準片:Au/Ni/Cu、Ag/Ni/Cu、Zn/Fe、ZnNi/Fe、Sn/Ni、Sn/Ni/Cu等等。
3.合金標準片：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4.定制厚度范圍：0.01~100μm.
特點：鍍層標準片質(zhì)量精良，精度高、X-Ray儀器標準片。
一體式標樣又分單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。
例如：單鍍層：Ag/Cu，雙鍍層：Au/Ni/Cu， 三鍍層：Au/Ni/Cu/Fe，合金鍍層：Zn-Ni/Fe， 化學鍍層：Ni-P/Fe。（所有標準片都附有證書）
1.薄膜片，單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（鎘）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等。
2.鍍層標準片（一體式）：單鍍層：Ag/Cu，雙鍍層：Au/Ni/Cu， 三鍍層：Au/Ni/Cu/Fe，合金鍍層：Zn-Ni/Fe， 化學鍍層：Ni-P/Fe等。
3.合金標準片（薄片式）：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等。
4.測量厚度范圍：0.01-120μm。
我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國Calmetrics公司申請定做合格的標準片，并附有標準片厚度值證書，也可代客戶送檢第三方CNAS資質(zhì)機構(gòu)校驗（廣州計量）并出具校驗證書等優(yōu)質(zhì)服務(wù)。
QQ:2568841715
