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北京東方中科集成科技股份有限公司
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更新時(shí)間：2023-04-09 15:07:04瀏覽次數(shù)：347次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)針對(duì)CCD、CMOS、image sensor、相機(jī)等圖像影像傳感器開發(fā)，適合多種規(guī)格的芯片和板卡性能測(cè)試，包括量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、飽和照射光子數(shù)、最小可探測(cè)照射光子數(shù)、動(dòng)態(tài)范圍、暗電流、線性度和線性誤差、光電響應(yīng)不均勻度、暗信號(hào)不均勻度、CRA特性測(cè)量。
針對(duì)COMS,CCD等影像傳感器開發(fā)，適合多種規(guī)格的芯片傳感器的量子效率測(cè)量。
1.可量測(cè)單一像素點(diǎn)的量子效率。
2.可量測(cè)全數(shù)組像素量子效率。
3.可產(chǎn)生各種所需單色光均勻光源，自動(dòng)化校正各單色光、特定單色光入射光子數(shù)。
4.選配：可加配CRA載臺(tái)，用以測(cè)試chief ray angle。
5.選配：軟件可配合用戶需求修改。
6.為全自動(dòng)化設(shè)計(jì)，操作簡易。
主要可測(cè)量的參數(shù)：
1.系統(tǒng)增益System gain(K)
2.量子效率Quantum efficiency
3.飽和照射光子數(shù)
4.最小可探測(cè)照射光子數(shù)
5.動(dòng)態(tài)范圍(DR)
6.暗電流
7.線性度和線性誤差Linear-Error
8.光電響應(yīng)不均勻度PRNU
9.暗信號(hào)不均勻度 DSNU
系統(tǒng)優(yōu)勢(shì):
QE-IS系統(tǒng)采用光焱科技研發(fā)多年的單色光均光系統(tǒng)具備下列多項(xiàng)優(yōu)勢(shì):
| 項(xiàng)目 | QE-IS 光學(xué)系統(tǒng) | 傳統(tǒng)積分球系統(tǒng) |
| 光均面均勻度 | > 99 % | > 99% |
| 光均面位置 | 距均光系統(tǒng)出口300 mm | 積分球開口處 |
| 光均面光強(qiáng)度 | > 5 uW/cm2 | 1x10-8 uW/cm2 (1米積分球) |
| 單像素QE量測(cè) | 可(光強(qiáng)足夠) | 否(光強(qiáng)度過低) |
| 發(fā)散角度 (半角) | < 5度 | > 90度 |
| 可否量測(cè)CRA | 可 | 否 |
產(chǎn)品規(guī)格
1.適用影像組件尺寸: 1/4"、1/3"、1/2"、2/3"、1"
2.單色光光譜范圍: 200~1100 nm (可擴(kuò)充)
3.均勻光源規(guī)格: 10 mm x 10 mm或更大
4.光均勻度> 99 %
5.單色光源角度: < 2.50 (半角)
6.最小波長步進(jìn)分辨率：0.1 nm
7.波長FWHM 可做0.1~30 nm調(diào)整
8.CRA角度精度?1度
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