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FSM薄膜應(yīng)力儀，應(yīng)力檢測儀，超高溫下測量薄膜應(yīng)力

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品簡介：美國FrontierSemiconductor(FSM)成立于1988年

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品簡介：

美國Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，總部位于圣何塞，多年來為半導(dǎo)體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設(shè)備，客戶遍布, 主要產(chǎn)品包括:光學(xué)測量設(shè)備: 三維輪廓儀、拉曼光譜、薄膜應(yīng)力測量設(shè)備、紅外干涉厚度測量設(shè)備、電學(xué)測量設(shè)備:高溫四探針測量設(shè)備、非接觸式片電阻及漏電流測量設(shè)備、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析 (EOT)