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高分辨率探測(cè)器

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上海安竹光電科技有限公司

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工業(yè)平板探測(cè)器50Um高分辨率探測(cè)器，cmos平板探測(cè)器是一款擁有高分辨率和低噪聲的高靈敏度

詳細(xì)介紹

工業(yè)平板探測(cè)器

50Um高分辨率探測(cè)器，

cmos平板探測(cè)器是一款擁有高分辨率和低噪聲的高靈敏度X射線平板探測(cè)器。

其擁有的靈敏度和信噪比。適用于多種工業(yè)、電子、航天、無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用。

可以根據(jù)不同應(yīng)用，適配不同的閃爍體和接口。

類(lèi)型 CMOS
有效面積 58.6mm*63mm
像素矩陣 1172*1260
像素尺寸 50µm
閃爍體 CsI
能量范圍 40kV~120kV
ROI 支持自定義
觸發(fā)模式內(nèi)觸發(fā)/外觸發(fā)
空間分辨率 ≥10.0lp/mm@1×1
圖像位數(shù) 16bit
幀速率 >16fps @1x1，>32fps @2x2
MTF ≥60%@1lp/mm,≥30%@2lp/mm
電源 DC12V±10%
功耗 ≤10W
使用環(huán)境 +10oC~+40oC
存儲(chǔ)環(huán)境 -20oC~+60oC
整機(jī)尺寸(W×L×H) 180mm×193mm×56mm
重量 2kg
注：MTF等數(shù)據(jù)可以根據(jù)用戶需求調(diào)整

cmos平板探測(cè)器尺寸圖
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