組合式多功能X射線衍射儀和高分辨率X射線衍射儀廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復(fù)合材料、有機材料、納米材料、超導(dǎo)材料。可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。廣泛應(yīng)用于粘土礦物、水泥建材、環(huán)境粉塵、化工制品、藥品、石棉、巖礦、聚合物等研究領(lǐng)域。
DX系列衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計的，是常規(guī)分析與特殊目的測量相結(jié)合的完善產(chǎn)品。硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)的有效結(jié)合，滿足不同應(yīng)用領(lǐng)域?qū)W者、科研者的需要
高精度的衍射角度測量系統(tǒng)，獲取更準(zhǔn)確的測量結(jié)果
高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測量精度
各種功能附件滿足不同測試目的需要
程序化操作、一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計，操作簡便、儀器外型更美觀
X射線衍射儀是揭示材料晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)信息的一種通用性測試儀器：未知樣品中一種和多種物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結(jié)構(gòu)解析（Rietveld結(jié)構(gòu)分析）
非常規(guī)條件下晶體結(jié)構(gòu)變化（高溫、低溫條件下）
薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
微區(qū)樣品的分析
金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析
完善的品質(zhì)與出色性能的結(jié)合DX系列衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件，具有的分析能力
高精度的機械加工，使附件安裝位置的重現(xiàn)性極大地提高，軟件自動識別相應(yīng)附件，不需要對光路進行校準(zhǔn)，附件安裝實現(xiàn)即插即用，簡單的操作就可滿足特殊目的測量的需要。
高性能與實用的有效結(jié)合基于θ-θ幾何光學(xué)設(shè)計，便于樣品的制備和各種附件的安裝
金屬陶瓷X射線管的應(yīng)用，極大提高衍射儀運行功率
封閉正比計數(shù)器，耐用免維護
硅漂移探測器具有*的角度分辨率和能量分辨率，測量速度提高3倍以上
豐富的衍射儀附件，滿足不同分析目的需要
衍射儀各種功能附件自動識別
模塊化設(shè)計或稱即插即用組件，操作人員不需要校正光學(xué)系統(tǒng)，就能正確使用衍射儀相應(yīng)附件
數(shù)據(jù)處理軟件包括以下功能基本數(shù)據(jù)處理功能（尋峰、平滑、背景扣除、峰形擬合、峰形放大、譜圖對比、Kα1、α2剝離、衍射線條指標(biāo)化等）；
無標(biāo)準(zhǔn)樣品快速定量分析
晶粒尺寸測量
晶體結(jié)構(gòu)分析（晶胞參數(shù)測量和精修）
宏觀應(yīng)力測量和微觀應(yīng)力計算；多重繪圖的二維和三維顯示；
衍射峰圖群聚分析；
衍射數(shù)據(jù)半峰寬校正曲線；
衍射數(shù)據(jù)角度偏差校正曲線；
基于Rietveld常規(guī)定量分析；
使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是用戶數(shù)據(jù)庫進行物相定性分析；
使用ICDD數(shù)據(jù)庫或是ICSD數(shù)據(jù)庫進行定量分析；
QQ:2568841715
