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COULOSCOPE CMS2 和 COULOSCOPE CMS2 STEP

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南通菲希爾測(cè)試儀器有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：其他

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

特性高精度測(cè)量多層金屬鍍層的厚度(庫(kù)侖法)根據(jù)DINENISO2177進(jìn)行測(cè)量通過(guò)彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)針對(duì)不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測(cè)量應(yīng)用測(cè)量單元上電壓曲線的圖形顯示圖形和統(tǒng)計(jì)評(píng)估帶支撐架的部分自動(dòng)化測(cè)量

詳細(xì)介紹

特性

高精度測(cè)量多層金屬鍍層的厚度(庫(kù)侖法)
根據(jù)DIN EN ISO 2177進(jìn)行測(cè)量
通過(guò)彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作
可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)
針對(duì)不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測(cè)量應(yīng)用
測(cè)量單元上電壓曲線的圖形顯示
圖形和統(tǒng)計(jì)評(píng)估
帶支撐架的部分自動(dòng)化測(cè)量，適用于各種樣品尺寸
全面的配件組合，以適應(yīng)特定的要求

COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進(jìn)行電位差測(cè)試
銀參比電極測(cè)量前的準(zhǔn)備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)
電解電流可調(diào)整
可直接在測(cè)厚儀顯示器上評(píng)估電位曲線

應(yīng)用

電鍍生產(chǎn)過(guò)程中的監(jiān)控和成品的進(jìn)廠檢驗(yàn)
可以精確測(cè)量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據(jù)材料不同)
金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測(cè)量
多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
單鍍層如鐵上鍍鋅

COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用

STEP測(cè)試：在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)

用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量

在一定的厚度以上，X射線熒光對(duì)鍍層的無(wú)損測(cè)量達(dá)到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫(kù)侖法測(cè)量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當(dāng)簡(jiǎn)單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測(cè)量許多常見(jiàn)的單層和多層鍍層。

庫(kù)侖法的成本效益高，可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了的靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。